Rasterkraftmikroskop

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Wie s Rasterchraftmikroskoop funkzioniert
En Abbildig vo dr Daateschicht vom ene bresste Compact Disc, gmacht mit eme Rasterchraftmikroskoop.

S Rasterchraftmikroskoop, sältener Atomchraftmikroskoop (ängl. atomic/scanning force microscope; abkürzt AFM bzw. SFM, sältener RKM), isch e speziells Rastersondemikroskoop. Es isch e wichdigs Wärkzüüg in dr Ooberflechechemii und mä brucht s, zum Oberfleche mechanisch abzdaste und zum atomari Chreft uf dr Nanometerskala z mässe. Das Mikroskoop isch 1986 vom Gerd Binnig, Calvin Quate und Christoph Gerber [1] entwigglet worde.

S Brinzip[ändere | Quälltäxt bearbeite]

Mit ere nanoskopisch chliine Noodle, wo an ere Blattfäädere (uf änglisch Cantilever) befestigt isch, dastet mä Ziile um Ziile im ene definierte Raster d Oberflechi vo dr Broob ab. Die atomare Chreft zwüsche dr Oberflechi und em Spitz vo dr Noodle biege d Blattfäädere je noch dr Posizioon e chli andersch stark. Wie stark das cha mä mit kapazitive oder optische Sensore mässe und eso d Struktur vo dr Oberflechi vergröösseret daarstelle.

Litratuur[ändere | Quälltäxt bearbeite]

  • B. Parkinson: Procedures in Scanning Probe Microscopies. John Wiley and Sons Ltd, 1997 (änglisch).
  • Roland Wiesendanger: Scanning Probe Microscopy and Spectroscopy - Methods and Applications. Cambridge University Press, Cambridge 1994, ISBN 0-521-42847-5 (Englisch).
  •  B. Cappella, G. Dietler: Force-distance curves by atomic force microscopy. In: Surface Science Reports. 34, Nr. 1–3, 1999, S. 1–104, doi:10.1016/S0167-5729(99)00003-5.
  •  Franz Josef Gießibl: Advances in atomic force microscopy. In: Reviews of Modern Physics. 75, Nr. 3, 2003, S. 949–983, doi:10.1103/RevModPhys.75.949.
  • Alex de Lozanne: Sensors for Proximal Probe Microscopy. Encyclopedia of Sensors (EOS) (EOS-Online).
  • P. West: Introduction to Atomic Force Microscopy: Theory, Practice and Applications (Online).

Weblingg[ändere | Quälltäxt bearbeite]

 Commons: Rasterchraftmikroskoop – Sammlig vo Multimediadateie

Fuessnoote[ändere | Quälltäxt bearbeite]

  1.  G. Binnig, C. F. Quate, Ch. Gerber: Atomic Force Microscope. In: Physical Review Letters. 56, Nr. 9, 1986, S. 930–933, doi:10.1103/PhysRevLett.56.930.
  2.  I. Horcas, R. Fernández, J. M. Gómez-Rodríguez, J. Colchero, J. Gómez-Herrero, A. M. Baro: WSXM: A software for scanning probe microscopy and a tool for nanotechnology. In: Review of Scientific Instruments. 78, 2007, S. 013705.