Rasterchraftmikroskoop
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S Rasterchraftmikroskoop, sältener Atomchraftmikroskoop (ängl. atomic/scanning force microscope; abkürzt AFM bzw. SFM, sältener RKM), isch e speziells Rastersondemikroskoop. Es isch e wichdigs Wärkzüüg in dr Ooberflechechemii und mä brucht s, zum Oberfleche mechanisch abzdaste und zum atomari Chreft uf dr Nanometerskala z mässe. Das Mikroskoop isch 1986 vom Gerd Binnig, Calvin Quate und Christoph Gerber[1] entwigglet worde.
S Brinzip[ändere | Quälltäxt bearbeite]
Mit ere nanoskopisch chliine Noodle, wo an ere Blattfäädere (uf änglisch Cantilever) befestigt isch, dastet mä Ziile um Ziile im ene definierte Raster d Oberflechi vo dr Broob ab. Die atomare Chreft zwüsche dr Oberflechi und em Spitz vo dr Noodle biege d Blattfäädere je noch dr Posizioon e chli andersch stark. Wie stark das cha mä mit kapazitive oder optische Sensore mässe und eso d Struktur vo dr Oberflechi vergröösseret daarstelle.
Litratuur[ändere | Quälltäxt bearbeite]
- B. Parkinson: Procedures in Scanning Probe Microscopies. John Wiley and Sons Ltd, 1997 (änglisch).
- Roland Wiesendanger: Scanning Probe Microscopy and Spectroscopy - Methods and Applications. Cambridge University Press, Cambridge 1994, ISBN 0-521-42847-5 (Englisch).
- B. Cappella, G. Dietler: Force-distance curves by atomic force microscopy. In: Surface Science Reports. Band 34, Nr. 1–3, 1999, S. 1–104, doi:10.1016/S0167-5729(99)00003-5.
- Franz Josef Gießibl: Advances in atomic force microscopy. In: Reviews of Modern Physics. Band 75, Nr. 3, 2003, S. 949–983, doi:10.1103/RevModPhys.75.949.
- Alex de Lozanne: Sensors for Proximal Probe Microscopy. Encyclopedia of Sensors (EOS) (EOS-Online).
- P. West: Introduction to Atomic Force Microscopy: Theory, Practice and Applications (Online).
Weblingg[ändere | Quälltäxt bearbeite]
Commons: Rasterchraftmikroskoop – Sammlig vo Multimediadateie- Nobelpreisträger und Erfinder des Rasterkraftmikroskops Gerd Binnig über Funktionsweise, Entwicklungsprozess und Anwendungen vom 18. August 2010
- Übersichtsartikel des Deutschen Patent- und Markenamts
- NanoCraft (Site cha nüme abgrüeft wärde; Suche im Webarchiv) – Animation zur Chemischen Kraftmikroskopie
- ImageSXM – Die freie Messsoftware für Apple Macintosh von Dr. Steve Barrett
- Gwyddion – Die freie Auswertesoftware für Windows- und Unix-Systeme.
- Nanotec Electronica – freie Auswertungssoftware WSXM zur Nachbearbeitung von Kraftmikroskopie-Bildern[2]
- FAFM First AFM on Mars, enthält Animationen zur Funktionsweise des AFM
- Rasterkraftmikroskopie im Schülerlabor: Einfache Erklärungen zum Aufbau und zur Funktionsweise eines AFM
Fuessnoote[ändere | Quälltäxt bearbeite]
- ↑ G. Binnig, C. F. Quate, Ch. Gerber: Atomic Force Microscope. In: Physical Review Letters. Band 56, Nr. 9, 1986, S. 930–933, doi:10.1103/PhysRevLett.56.930.
- ↑ I. Horcas, R. Fernández, J. M. Gómez-Rodríguez, J. Colchero, J. Gómez-Herrero, A. M. Baro: WSXM: A software for scanning probe microscopy and a tool for nanotechnology. In: Review of Scientific Instruments. Band 78, 2007, S. 013705.